Скоро появятся микроскопы на суперлинзах

 


Ранее ученые использовали сканирующие микроскопы близкого поля (SNOM), разрешающая способность которых была ограничена. Теперь же на помощь пришла технология суперлинз, широко использующихся при нанофотонных исследованиях. Суперлинза — это тонкая пленка SiC толщиной всего 880 нанометров.

В ходе эксперимента также выявились детали, связанные с работой суперлинз, использованных учеными в SNOM-микроскопии.

Потенциальные применения нового микроскопа — исследования биологических структур в их естественной среде. Разработка имеет очень важное значение, так как для изучения клеток и биомолекул с помощью электронных микроскопов приходится убивать клетку.

Источник: CNews.ru