Конкурс: Развитие методической составляющей системы обеспечения единства измерений в наноиндустрии и безопасности создания и применения объектов наноиндустрии (3.1, 1-3-я очереди)

 


В рамках Федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 годы» объявлен конкурс проектов на право заключения государственных контрактов на выполнение работ в рамках направления 3  Развитие методической составляющей системы обеспечения единства измерений в наноиндустрии и безопасности создания и применения объектов наноиндустрии

мероприятие 3.1 - I очередь

Лот 1 «Разработка методик выполнения измерений и методических рекомендаций по выявлению в биопробах искусственных наночастиц и вызываемых ими клеточных патологий для оценки безопасности наночастиц в системе специализированных лабораторий».
Лот 2 «Разработка методологии оценки безопасности новых видов наноматериалов на основе комплексного анализа патогенетических изменений у различных лабораторных животных».
Лот 3 «Разработка комплекса методов и аналитических протоколов для выявления фитотоксического действия техногенных наночастиц на растения».
Лот 4 «Разработка комплекса методов оценки на молекулярном уровне безопасности наночастиц и наноматериалов».
Лот 5 «Разработка методологии оценки безопасности новых видов наноматериалов на основании динамики их элиминации из органов и тканей после длительного воздействия».
Лот 6 «Разработка нормативно-методического обеспечения определения физико-химических свойств наночастиц липидной природы, входящих в состав лекарств и лечебно-профилактических препаратов».
Лот 7 «Разработка методологии оценки биологической безопасности техногенных наноматериалов промышленного и медицинского назначения».
Лот 8 «Оценка опасности транслокации наночастиц по пищевым сетям агро- и аквапромышленного производства».
Лот 9 «Разработка нормативно-методических документов, устанавливающих методы оценки безопасности искусственных наноматериалов с использованием системных биомаркеров».
Лот 10 «Анализ правовых норм обеспечения и контроля нанобезопасности, используемых в международной практике».

Вскрытие конвертов с заявками 26 апреля 2011 в 10:00

мероприятие 3.1 - II очередь

Лот 1 «Развитие методической составляющей инфраструктуры и расширение области аккредитации отделения Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии по направлению «наноэлектроника».
Лот 2 «Развитие методической составляющей инфраструктуры и расширение области аккредитации отделения Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии по направлению «наноинженерия»».
Лот 3 «Развитие методической составляющей инфраструктуры и расширение области аккредитации отраслевого отделения Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии по направлению «Функциональные наноматериалы и высокочистые вещества»».
Лот 4 «Развитие методической составляющей инфраструктуры и расширение области аккредитации элемента Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии по направлению «функциональные наноматериалы для энергетики»».
Лот 5 «Развитие методической составляющей инфраструктуры и расширение области аккредитации отделений Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии по направлению «функциональные наноматериалы для космической техники»».
Лот 6 «Развитие инфраструктуры и расширение области аккредитации отделения Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии по направлению «нанобиотехнологии»».
Лот 7 «Развитие инфраструктуры и расширение области аккредитации отделения Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии по направлению «конструкционные наноматериалы»».
Лот 8 «Развитие методической составляющей инфраструктуры и расширение области аккредитации отраслевого отделения Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии по направлению «композитные наноматериалы»».
Лот 9 «Развитие методической составляющей инфраструктуры и расширение области аккредитации отделения Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии по направлению «нанотехнологии для систем безопасности и экспортного контроля»».

Вскрытие конвертов с заявками 26 апреля 2011 в 12:00

мероприятие 3.1 - III очередь

Лот 1 «Создание нормативно-методической базы и стандартных образцов для обеспечения единства измерений массовой доли и размеров наночастиц в различных средах и биологической матрице на основе ядерно-физической и оптической спектроскопии».
Лот 2 «Создание комплекса аттестованных методик для обеспечения единства измерений спектральных и временных характеристик нанобиоструктур с пространственным разрешением в нанодиапазоне»».
Лот 3 «Создание методов и средств обеспечения единства измерений нелинейно-оптической восприимчивости наноструктурированных материалов с временным разрешением в приложениях информационно-телекоммуникационных технологиях и лазерной физике».
Лот 4 «Создание аттестованных методик и эталонных мер для обеспечения единства измерений координат и позиционирования объектов в наноинженерии и наноэлектронике».
Лот 5 «Метрологическое обеспечение измерений размерных параметров наночастиц и тонких пленок методами малоугловой рентгеновской дифрактометрии».
Лот 6 «Комплект высокоточных мер ступенчатых поверхностей с субангстремным вертикальным разрешением для обеспечения единства измерений в нано- и субнанометровом диапазоне размеров».
Лот 7 «Методы и средства метрологического обеспечения измерений пространственных и функциональных характеристик наноразмерных покрытий и гетероструктур».
Лот 8 «Метрологическое и нормативно-методическое обеспечение измерений механических и трибологических свойств наноматериалов и продукции наноиндустрии».
Лот 9 «Создание комплекта аттестованных методик, стандартных образцов и мер для метрологического обеспечения измерений состава, структуры и свойств высокопрочных наноструктурированных конструкционных сталей и сплавов».
Лот 10 «Создание стандартных образцов состава и свойств многослойных наногетероструктур для метрологического обеспечения измерений профилей состава функциональных покрытий и приборов наноэлектроники на гетероструктурах».
Лот 11 «Метрологическое и нормативно-методическое обеспечение измерений параметров и характеристик наноструктурированных гетероэпитаксиальных структур полупроводникового твердого раствора «кадмий-ртуть-теллур» для инфракрасной техники».
Лот 12 «Создание методов и средств метрологического обеспечения измерений примесного состава высокочистых веществ и наноматериалов для производства солнечных батарей нового поколения и наноэлектроники».
Лот 13 «Создание комплекса стандартных образцов и аттестованных методик измерений характеристик наноструктурированных деформируемых никелевых сплавов».
Лот 14 «Создание комплекса аттестованных методик и стандартных образцов для измерений состава и магнитной текстуры редкоземельных наноструктурных сплавов для разделительных центрифуг нового поколения в атомной энергетике».

Вскрытие конвертов с заявками 06 мая 2011 в 10:00

Информация на сайте 
ФЦП «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 годы»